S parameter library提供能够用于电路设计时的仿真的芯片积层陶瓷电容器的S参数数据。在此，对S参数数据的测量步骤、所使用的试验线路板、测量装置、测量条件进行说明。
以下介绍本测量的步骤。此外，以图1所示的方法使用网络分析器和测量夹具在2个端口上测量S参数。
使用SOLT校正和TRL校正2种方法进行校正。SOLT校正使用本公司生产的Short, Open, Load, Thru线路板校正低频率侧的领域。与此相反，TRL校正使用本公司生产的Thru, Reflect, Line, Match线路板校正高频率侧的领域。此外，校正基准面是焊盘图案的端面。
将样品焊接在线路板上，然后固定在与网络分析器相连接的测量夹具上进行测量。
所测量的S参数数据虽然已经根据校正和电气长修正除去了试验线路板和测量夹具的特性，但是通孔的特性还包含在里面。因此，从测量结果中除去了通孔的特性，抽取样品单品的S参数数据。
图1: S参数测量
本测量所使用的试验线路板如下所示。图2显示了线路板构造。
图2: 基板構造
| 材质 | 玻璃环氧树脂 (层厚度0.1mm) |
|---|---|
| 图案材质 | 铜箔 (厚度0.035mm),镀金 (厚度0.003mm) |
| 微带线 | 长度10mm,宽度0.9mm |
| 特性阻抗 | 20Ω |
| 焊盘图案尺寸 | 参照图3 |
图3: 焊盘图案尺寸
本测量所使用的测量装置如下所示。
| 网络分析器 | E5061B/E5071C (Agilent Technologies) |
|---|---|
| 测量夹具 | PC-SMA (YOKOWO) |
本测量将测量频率范围分为低频率领域和高频率领域两种，分别采用适合各自领域的测量条件。在表1中显示测量条件。
表1 测量条件
| 频率领域 | 低频率 | 高频率 |
|---|---|---|
| 网络分析器 | E5061B Agilent Technologies | E5071C Agilent Technologies |
| 测量频率范围 | 100Hz～10MHz | 100kHz～8.5GHz |
| 校正套件 | SOLT校正 | TRL校正 |
| 连接模式 | 并联方式 | |
S Parameter
