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S-parameter Measurement of Multilayer Ceramic Capacitors
「設計支援ツール」では、チップ積層セラミックコンデンサのSパラメータを提供しています。ここでは、このSパラメータの測定手順、使用する試験基板、測定装置、測定条件について説明します。
本測定の手順を以下に示します。なおSパラメータデータは、図1のように、主にネットワークアナライザと測定治具を使用して2ポートで測定しています。
本測定で使用する試験基板は以下の通りです。図2にランドパターンを示します。
本測定で使用する測定装置は以下の通りです。
※1,000pF以上については、「高誘電率系コンデンサ」と同じ条件です。
本測定では、測定周波数範囲を低周波領域と高周波領域の2つに分類し、それぞれに適した測定条件を用いています。表1に温度補償用コンデンサ、表2に高誘電率系コンデンサの測定条件を示します。